极化测试与分析

Luna的先进偏振测试和偏振测量产品组合广泛，可以精确测量和分析光学材料、组件和网络中所有基本的偏振相关特性。188金宝慱欢迎你

光学元件和系统对偏振状态(SOP)很敏感。例如，光信号可能因其SOP的不同而衰减不同。这被称为偏振依赖性损耗(PDL)。对于不同的偏振，双折射光学元件会有不同的折射率，导致光以略微不同的速度传播，导致差分群延迟(DGD)。在光纤中，沿其长度有不同的双折射部分，这种效应被称为偏振模色散(PMD)。

偏振态与庞加莱球表示

光的偏振状态是光信号的一个重要参数，因为它影响到光束在与光介质或光学元件相互作用时的行为。Luna的直列式旋光计将经过的光分成四个不同的光束，而不中断光信号，如下图所示:

任何SOP都可以表示为球面上的一点。这种偏振状态的三维表示称为庞加莱球表示。Luna的偏振计可以使用PolaView实时显示偏振的变化，如下图所示:

光学材料、元件和网络中的偏振效应

在光纤通信系统中，来自光纤和光学元件的PDL和PMD的存在是光信号退化的来源，可能导致接收器的错误数据检测。因此，从发射机到光纤网络，再到接收器的所有光学都需要波长相关的偏振相关参数的测量和表征。

极化控制的关键测量

Luna解决方案提供先进的偏振相关测量，用于光学组件的完整表征，包括:

• 偏振态(SOP)
• 偏振度(DOP)
• 插入损耗(IL)
• 偏振相关损耗(PDL)
• 偏振模色散(PMD)
• 偏振态的演化
• 偏振消光比(PER)
• 琼斯矩阵元素
• 穆勒矩阵元素