光学通信和光子控制

光学设备测试和表征

第15组

概述

需要高精度,高速高级测试和测量仪器的需求对于当今的光子组件和系统至关重要。Luna提供了广泛的测试解决方案,专门设计用于减少测试时间并通过最低集成工作提高产量。从简单的IL/PDL测量到更复杂的表征和分析工具,Luna为制造商和设计师提供了根据规格首次和每次制造产品所需的工具。188金宝慱欢迎你

PIC和硅光子学测试

光子集成电路(PIC)是满足带宽,容量和性能的指数增长需求的关键技术。在整个开发周期中,快速,准确和完整的图片测试至关重要。
硅光子图片设备

相干接收器的极化测试

连贯的DWDM技术可以使多达800 Gbps的数据传输单个波长,以满足对更多网络带宽的需求不断增长。影响相干通信系统性能的重要光学参数之一是极化。这些系统需要严格的极化测试,以定量表征相干接收器的所有与极化相关的功能。
光纤电缆