测量光学系统或元件的PDL的技术

由于对更高带宽的快速需求，数据中心连接的传输速度从25G/100G迁移到400G/800G。由于相干接收器限制了高速通信系统的带宽容量，因此期望能够减轻PDL的影响。与其他可以补偿的损伤(如偏振模色散(PMD))不同，PDL会导致无法补偿的脉冲失真。

为保证网络服务质量，应尽量减少各组成部分的PDL，并将网络的最大累积PDL保持在指定的限度以下。例如，OIF 400ZR IA和IEEE P802.3ct Task Forces (400GBASE-ZR)进行了标准化工作，将链路的最大偏振相关损耗指定为2 dB，不包括发射机偏振不平衡。因此，几乎所有的光学元件、子模组和模组都需要精确的PDL测量，作为规定标准参数的一部分。

通常有三种标准技术用于测量光学系统或组件的PDL: 1)偏振置乱/扫描，2)最大/最小搜索，和3)使用穆勒或琼斯矩阵的矩阵测量。每种方法在测量速度、精度、光带宽和校准要求方面都有各自的优缺点。

应该选择的方法取决于应用程序的需求。我们的新申请须知提供了三种方法和推荐应用的比较。